Universität der Bundeswehr München: AtheneForschung
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Autoren:
Pogany, Dionýz; Bychikhin, Sergey; Fürböck, Christoph; Litzenberger, Martin; Gornik, Erich; Groos, Gerhard; Esmark, Kai; Stecher, Matthias 
Dokumenttyp:
Zeitschriftenartikel / Journal Article 
Titel:
Quantitative internal thermal energy mapping of semiconductor devices under short current stress using backside laser interferometry 
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Electron Devices 
Jahrgang:
49 
Heftnummer:
11 
Jahr:
2002 
Seiten von - bis:
2070-2079 
Sprache:
Englisch 
ISSN:
0018-9383 ; 1557-9646 
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik 
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik 
Professur:
Groos, Gerhard 
Open Access ja oder nein?:
Nein / No 
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