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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Titel:
Laser-interferometric investigation of tiggering behavior in CMOS and smart power technology electrostatic discharge (ESD) protection sturctures
Titel Konferenzpublikation:
GMe Forum 2001
Untertitel Konferenzpublikation:
TU Wien, 5. und 6. April 2001
Konferenztitel:
Gesellschaft für Mikroelektronik Forum (2001, Wien)
Tagungsort:
Wien
Jahr der Konferenz:
2001
Datum Beginn der Konferenz:
05.04.2001
Datum Ende der Konferenz:
06.04.2001
Verlagsort:
Wien
Verlegende Institution:
Gesellschaft für Mikroelektronik
Jahr:
2001
Sprache:
Englisch
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Professur:
Groos, Gerhard
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
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