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Autoren:
Morgenstern, Haiko; Groos, Gerhard; Köhne, Heiko; Stecher, Matthias; John, Werner; Reichl, Herbert
Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Titel:
Algorithm for the automatic verification of complex mixed-signal ICs regarding ESD-stress
Titel Konferenzpublikation:
2005 PhD Research in Microelectronics and Electronics
Konferenztitel:
Research in Microelectronics and Electronics (2005, Lausanna)
Konferenztitel:
PRIME 2005
Tagungsort:
Lausanne
Jahr der Konferenz:
2005
Datum Beginn der Konferenz:
25.07.2005
Datum Ende der Konferenz:
28.07.2005
Jahr:
2005
Seiten von - bis:
213-216
Sprache:
Englisch
ISBN:
0-7803-9345-7
DOI:
10.1109/RME.2005.1543042
URL zum Inhalt:
https://doi.org/10.1109/RME.2005.1543042
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Professur:
Groos, Gerhard
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
BibTeX
Vorkommen:
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