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Autoren:
Morgenstern, Haiko; Groos, Gerhard; Köhne, Heiko; Stecher, Matthias; John, Werner; Reichl, Herbert 
Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper 
Titel:
Algorithm for the automatic verification of complex mixed-signal ICs regarding ESD-stress 
Titel Konferenzpublikation:
2005 PhD Research in Microelectronics and Electronics 
Konferenztitel:
Research in Microelectronics and Electronics (2005, Lausanna) 
Konferenztitel:
PRIME 2005 
Tagungsort:
Lausanne 
Jahr der Konferenz:
2005 
Datum Beginn der Konferenz:
25.07.2005 
Datum Ende der Konferenz:
28.07.2005 
Jahr:
2005 
Seiten von - bis:
213-216 
Sprache:
Englisch 
ISBN:
0-7803-9345-7 
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik 
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik 
Professur:
Groos, Gerhard 
Open Access ja oder nein?:
Nein / No