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Autoren:

Reggiani, Susanna; Gnani, Elena; Rudan, Massimo; Baccarani, Giogio; Bychikhin, Sergey; Kuzmík, Ján; Pogany, Dionýz; Gornik, Erich; Denison, Marie; Jensen, Nils; Groos, Gerhard; Stecher, Matthias

Dokumenttyp:

Zeitschriftenartikel / Journal Article

Titel:

A New Numerical and Experimental Analysis Tool for ESD Devices by Means of the Transient Interferometric Technique

Zeitschrift:

IEEE Electron Device Letters

Jahrgang:

Heftnummer:

Jahr:

2005

Seiten von - bis:

916-918

Sprache:

Englisch

DOI:

10.1109/LED.2005.859685

URL zum Inhalt:

https://doi.org/10.1109/LED.2005.859685

Fakultät:

Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik

Institut:

ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik

Professur:

Groos, Gerhard

Open Access ja oder nein?:

Nein / No

BibTeX

Vorkommen:

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