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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Titel:
An Extension of Thru De-embedding Technique for Characterization of Asymmetrical and Differential Devices
Titel Konferenzpublikation:
Proceedings of the German Microwave Conference
Konferenztitel:
German Microwave Conference (3., 2008, Hamburg-Harburg)
Konferenztitel:
GeMiC 2008
Tagungsort:
Hamburg-Harburg
Jahr der Konferenz:
2008
Datum Beginn der Konferenz:
10.03.2008
Datum Ende der Konferenz:
12.03.2008
Jahr:
2008
Seiten von - bis:
221-224
Sprache:
Englisch
ISBN:
978-3-8007-3086-5
URL zum Inhalt:
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Institut:
EIT 4 - Institut für Mikroelektronik und Schaltungstechnik
Professur:
Maurer, Linus
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