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Autoren:
Krause-Rehberg, Reinhard; Bondarenko, Vladimir; Redmann, F.; Borner, F.; Feick, H.; Weber, Eicke R.; Da Via, C.; Egger, Werner; Kögel, Gottfried; Sperr, Peter; Triftshäuser, Werner 
Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper 
Titel:
Study of radiation defects in semiconductors by means of positron annihilation 
Titel Konferenzpublikation:
Proceedings of the 3rd international Symposium on Material Chemistry in Nuclear Environment (Materials Chemistry MC’02) 
Jahrgang:
36 
Heftnummer:
50 
Konferenztitel:
International Symposium on Material Chemistry in Nuclear Environment (3., 2002, Chiba) 
Tagungsort:
Japan Atomic Energy Research Inst., Kashiwa, Chiba (Japan) 
Jahr der Konferenz:
2002 
Datum Beginn der Konferenz:
13.03.2002 
Datum Ende der Konferenz:
15.03.2002 
Jahr:
2003 
Seiten von - bis:
114-117 
Sprache:
Englisch 
Stichwörter:
Semiconductors, Radiation Defects, Neutron Irradiation, Getter Zones, Silicon, Rp/2 effect 
Abstract:
In a nuclear environment, a strong degradation of important properties is observed for many materials which are otherwise very reliable. This is especially valid for silicon, the most important semiconductor. In the presented paper, two examples for the study of lattice defects in silicon by means of positron annihilation will be given. Firstly, the degradation of silicon detectors used for the particle detection in high-luminosity collider experiments starts to limit the lifetime of the whole e...    »
 
Fakultät:
Fakultät für Luft- und Raumfahrttechnik 
Institut:
LRT 2 - Institut für angewandte Physik und Messtechnik 
Professur:
Dollinger, Günther 
Open Access ja oder nein?:
Nein / No