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Document type:
Zeitschriftenartikel / Journal Article
Title:
Quantitative internal thermal energy mapping of semiconductor devices under short current stress using backside laser interferometry
Journal:
IEEE Transactions on Electron Devices
Volume:
49
Issue:
11
Year:
2002
Pages from - to:
2070-2079
Language:
Englisch
ISSN:
0018-9383 ; 1557-9646
Department:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institute:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Chair:
Groos, Gerhard
Open Access yes or no?:
Nein / No
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