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Authors:

Dubec, Viktor; Bychikhin, Sergey; Blaho, Matej; Heer, Michael; Pogany, Dionýz; Denison, Marie; Jensen, Nils; Stecher, Matthias; Groos, Gerhard; Gornik, Erich

Document type:

Zeitschriftenartikel / Journal Article

Title:

Multiple-time-instant 2D thermal mapping during a single ESD event

Journal:

Microelectronics Reliability

Volume:

Issue:

Year:

2004

Pages from - to:

1793-1798

Language:

Englisch

DOI:

10.1016/j.microrel.2004.07.087

URL:

https://doi.org/10.1016/j.microrel.2004.07.087

Department:

Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik

Institute:

ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik

Chair:

Groos, Gerhard

Open Access yes or no?:

Nein / No

BibTeX

Occurrences:

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