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Document type:
Zeitschriftenartikel / Journal Article
Title:
On-wafer measurement of the reverse-recovery time of integrated diodes by Transmission-Line-Pulsing (TLP)
Journal:
Microelectronics Reliability
Volume:
51
Issue:
8
Year:
2011
Pages from - to:
1309-1314
Language:
Englisch
Department:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institute:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Chair:
Sauter, Martin
Open Access yes or no?:
Nein / No
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