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Autoren:
Hirler, Airler; Alsioufy, Adnan; Biba, Josef; Lehndorff, Thomas; Lochner, Helmut; Simon, S; Sulima, Torsten; Thomas, W.; Hansch, Walter
Dokumenttyp:
Zeitschriftenartikel / Journal Article
Titel:
Effective and combined stressors from multi-dimensional mission profiles for semiconductor reliability
Zeitschrift:
Microelectronics Reliability
Heftnummer:
100-101
Jahr:
2019
Sprache:
Englisch
Stichwörter:
Automotive electronics ; Mission profile ; Semiconductor reliability ; Interdependent stressors ; Effective stress
DOI:
10.1016/j.microrel.2019.06.015
URL zum Inhalt:
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2019.06.015
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Institut:
EIT 2 - Institut für Physik
Professur:
Hansch, Walter
Open Access ja oder nein?:
Ja / Yes
Art der OA-Lizenz:
CC BY NC ND 4.0
URL zur Lizenz:
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
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Vorkommen:
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