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Autoren:
Groos, Gerhard
Dokumenttyp:
Zeitschriftenartikel / Journal Article
Titel:
Characterisation method for chip card ESD events causing terminal failures
Zeitschrift:
Microelectronics Reliability
Jahrgang:
52
Heftnummer:
9-10
Jahr:
2012
Seiten von - bis:
2005-2009
Sprache:
Englisch
DOI:
10.1016/j.microrel.2012.06.072
URL zum Inhalt:
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2012.06.072
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Professur:
Groos, Gerhard
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
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Vorkommen:
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