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Authors:

Reggiani, Susanna; Gnani, Elena; Rudan, Massimo; Baccarani, Giogio; Bychikhin, Sergey; Kuzmík, Ján; Pogany, Dionýz; Gornik, Erich; Denison, Marie; Jensen, Nils; Groos, Gerhard; Stecher, Matthias

Document type:

Zeitschriftenartikel / Journal Article

Title:

A New Numerical and Experimental Analysis Tool for ESD Devices by Means of the Transient Interferometric Technique

Journal:

IEEE Electron Device Letters

Volume:

Issue:

Year:

2005

Pages from - to:

916-918

Language:

Englisch

DOI:

10.1109/LED.2005.859685

URL:

https://doi.org/10.1109/LED.2005.859685

Department:

Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik

Institute:

ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik

Chair:

Groos, Gerhard

Open Access yes or no?:

Nein / No

BibTeX

Occurrences:

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