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Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
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Autoren:
Reggiani, Susanna; Gnani, Elena; Rudan, Massimo; Baccarani, Giorgio; Corvasce, Chiara; Barlini, Davide; Ciappa, Mauro; Fichtner, Wolfgang; Denison, Marie; Jensen, Nils; Groos, Gerhard; Stecher, Matthias
Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Titel:
Experimental extraction of impact-ionization coefficient at large operating temperatures
Titel Konferenzpublikation:
IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004
Konferenztitel:
IEEE International Electron Devices Meeting (2004, San Francisco, CA)
Tagungsort:
San Francisco, CA
Jahr der Konferenz:
2004
Datum Beginn der Konferenz:
13.12.2004
Datum Ende der Konferenz:
15.12.2004
Verlagsort:
Piscataway
Verlag:
IEEE
Jahr:
2004
Seiten von - bis:
407-410
Sprache:
Englisch
ISBN:
0-7803-8684-1
DOI:
10.1109/IEDM.2004.1419171
URL zum Inhalt:
https://doi.org/10.1109/IEDM.2004.1419171
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Professur:
Groos, Gerhard
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
BibTeX
Vorkommen:
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