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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Titel:
Simulation of System Level ESD robustness using advanced behavioral IC models under consideration of PCB parasitics
Konferenztitel:
Electro Static Discharge Forum (15., 2017, München)
Konferenztitel:
15. ESD-Forum, München, 25. Oktober 2017
Tagungsort:
München
Jahr der Konferenz:
2017
Datum Beginn der Konferenz:
23.10.2017
Datum Ende der Konferenz:
25.10.2017
Jahr:
2017
Sprache:
Englisch
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Professur:
Sauter, Martin
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
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