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Autoren:
Campbell, Kelly M.; Schein, Jochen; Dewald, Eduard; Turner, Robert; Landen, Otto; Glenzer, Siegfried 
Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper 
Titel:
NIF Dante Soft X-Ray Diagnostic Fielding and Analysis 
Titel Konferenzpublikation:
IEEE Conference Record - Abstracts 
Untertitel Konferenzpublikation:
2005 IEEE International Conference on Plasma Science 
Konferenztitel:
IEEE International Conference on Plasma Science (2005, Monterey, Calif.) 
Tagungsort:
Monterey, Calif., USA 
Jahr der Konferenz:
2005 
Datum Beginn der Konferenz:
20.06.2005 
Datum Ende der Konferenz:
23.06.2005 
Verlagsort:
Piscataway, NJ 
Verlag:
IEEE 
Jahr:
2005 
Seiten von - bis:
159 
Sprache:
Englisch 
ISBN:
0-7803-9300-7 
Open Access ja oder nein?:
Nein / No