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EIT 1 - Institut für Plasmatechnik und Mathematik
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Authors:
Mayr, W.; Steiner, E.; Blau, S.; Szulc, Michal; Atzberger, Alexander; Hartz-Behrend, Karsten; Zimmermann, Stephan; Zierhut, Jochen; Schein, Jochen
Document type:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Title:
Cause study to the occurence of unmelted wire pieces during wire arc spraying
Subtitle:
Proceedings of a meeting held 10-12 May 2016, Shanghai, China
Title of conference publication:
International Thermal Spray Conference & Exposition (2016, Shanghai)
Subtitle of conference publication:
ITSC 2016
Conference title:
International Thermal Spray Conference (2016, Shanghai)
Venue:
Shanghai, China
Year of conference:
2016
Date of conference beginning:
10.05.2016
Date of conference ending:
12.05.2016
Place of publication:
Red Hook, NY
Publisher:
Curran Associates, Inc.
Year:
2016
Pages from - to:
516-521
Language:
Englisch
ISBN:
9781510844001
Department:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Institute:
EIT 1 - Institut für Plasmatechnik und Mathematik
Chair:
Schein, Jochen
Open Access yes or no?:
Nein / No
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Occurrences:
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