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Autoren:
Hirler, Alexander; Alsioufy, Adnan; Biba, Josef; Lehndorff, T.; Lipp, D.; Lochner, Helmut; Siddabathula, M.; Simon, S.; Sulima, Torsten; Wiatr, Maciej; Hansch, Walter 
Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper 
Titel:
Alternating Temperature Stress and Deduction of Effective Stress Levels from Mission Profiles for Semiconductor Reliability 
Titel Konferenzpublikation:
2019 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) 
Konferenztitel:
Annual IEEE International Reliability Physics Symposium (2019, Monterey, CA) 
Tagungsort:
Monterey, CA 
Jahr der Konferenz:
2019 
Datum Beginn der Konferenz:
31.03.2019 
Datum Ende der Konferenz:
04.04.2019 
Jahr:
2019 
Sprache:
Englisch 
ISBN:
978-1-5386-9504-3 ; 978-1-5386-9505-0 
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik 
Institut:
EIT 2 - Institut für Physik 
Professur:
Hansch, Walter 
Open Access ja oder nein?:
Nein / No