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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Titel:
Automatic Parameter Extraction of MOSFET Compact Models using Differential Evolution with Population Prediction (DEpred)
Konferenztitel:
IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (6., 2022, Oita, Japan)
Tagungsort:
Oita, Japan
Jahr der Konferenz:
2022
Datum Beginn der Konferenz:
06.03.2022
Datum Ende der Konferenz:
09.03.2022
Verlag:
IEEE
Jahr:
2022
Seiten von - bis:
94-96
Sprache:
Englisch
ISBN:
978-1-6654-2178-2 ; 978-1-6654-2179-9
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Institut:
EIT 4 - Institut für Mikroelektronik und Schaltungstechnik
Professur:
Maurer, Linus
Open Access ja oder nein?:
Ja / Yes
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