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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Titel:
Analysis and Measurement of Spurious Emission and Phase Noise Performance of an RF All-Digital Phase Locked Loop using a Frequency Discriminator
Titel Sammlung:
IEEE/MTT-S International Microwave Symposium, 2007
Veranstalter (Körperschaft):
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Konferenztitel:
IEEE MTT-S International Microwave Symposium (2007, Honolulu, HI)
Tagungsort:
Honululu, Hawaii
Jahr der Konferenz:
2007
Datum Beginn der Konferenz:
03.06.2007
Datum Ende der Konferenz:
08.06.2007
Jahr:
2007
Seiten von - bis:
2205-2208
Sprache:
Englisch
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Institut:
EIT 4 - Institut für Mikroelektronik und Schaltungstechnik
Professur:
Maurer, Linus
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