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Autoren:
Huppmann, Marc; Harrant, Manuel; Nirmaier, Thomas; Buzo, Andi; Maurer, Linus; Pelz, Georg 
Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper 
Titel:
Towards Complete State Machine Traversal via Pseudo Transitions in Automated Lab Verification 
Titel Konferenzpublikation:
2022 IEEE International Test Conference India (ITC India) 
Untertitel Konferenzpublikation:
Bangalore, India, 2022 
Konferenztitel:
IEEE International Test Conference India (2022, Bangalore) 
Tagungsort:
Bangalore, India 
Jahr der Konferenz:
2022 
Datum Beginn der Konferenz:
24.07.2022 
Datum Ende der Konferenz:
26.07.2022 
Verlagsort:
Piscataway, NJ 
Verlag:
IEEE 
Jahr:
2022 
Seiten von - bis:
1-7 
Sprache:
Englisch 
Abstract:
The complexity of modern automotive smart power devices increases due to their growing amount of functionality. The resulting extensive internal state machine requires more verification time especially in the mixed-signal post-silicon domain, which still relies on manually intensive directed testing. A state transition based methodology is proposed, that automatically finds a verification path through the complete state machine and ensures that each transition, and hence each state, is traversed...    »
 
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik 
Institut:
EIT 4 - Institut für Mikroelektronik und Schaltungstechnik 
Professur:
Maurer, Linus 
Open Access ja oder nein?:
Nein / No