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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Titel:
Correlation study of different CDM testers and CC-TLP
Konferenztitel:
Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (39., 2017, Tucson, AZ)
Konferenztitel:
39th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD)
Tagungsort:
Tucson, AZ, USA
Jahr der Konferenz:
2017
Datum Beginn der Konferenz:
10.09.2017
Datum Ende der Konferenz:
14.09.2017
Verlegende Institution:
IEEE
Jahr:
2017
Seiten von - bis:
1-10
Sprache:
Englisch
Abstract:
This paper analyzes the correlation between test results of three different CDM testers and corresponding results of Capacitively Coupled Transmission Line Pulsing (CC-TLP). Furthermore, it discusses the significance of the current slew rate as an additional failure threshold and the reasons for a poor reproducibility of CDM failures.
ISBN:
978-1-58537-293-5
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Institut:
EIT 4 - Institut für Mikroelektronik und Schaltungstechnik
Professur:
Maurer, Linus
Open Access ja oder nein?:
Ja / Yes
BibTeX