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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Titel:
Application Example of a Novel Methodology to Generate IC Models for System ESD and Electrical Stress Simulation out of the Design Data
Titel Konferenzpublikation:
41st Annual EOS/ESD Symposium (EOS/ESD)
Konferenztitel:
Annual Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (41., 2019, Riverside, CA)
Tagungsort:
Riverside, CA, USA
Jahr der Konferenz:
2019
Datum Beginn der Konferenz:
15.09.2019
Datum Ende der Konferenz:
20.09.2019
Verlagsort:
Piscataway, NJ
Verlag:
IEEE
Jahr:
2019
Sprache:
Englisch
ISBN:
978-1-58537-311-6 ; 978-1-7281-2890-0
ISSN:
0739-5159
URL zum Inhalt:
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Institut:
EIT 4 - Institut für Mikroelektronik und Schaltungstechnik
Professur:
Maurer, Linus
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
BibTeX