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Authors:
Müller, Dominikus J.; Reiter, Leopold; Hopf, Jochen; Barié, D.; Lindenmeier, Stefan
Document type:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Title:
A Measurement System for Investigation and Evaluation of Diversity Antenna Combinations in Microwave Fading Scenarios
Title of conference publication:
German Microwave Conference (GeMIC)
Subtitle of conference publication:
10-12 March 2008, Hamburg-Harburg, Germany
Conference title:
German Microwave Conference (3., 2008, Hamburg-Harburg)
Venue:
Hamburg-Harburg
Year of conference:
2008
Date of conference beginning:
10.03.2008
Date of conference ending:
12.03.2008
Publisher:
VDE
Year:
2008
Pages from - to:
1-4
Language:
Englisch
ISBN:
978-3-8007-3086-5
URL:
http://ieeexplore.ieee.org/xpls/abs_all.jsp?arnumber=5757047
Department:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Institute:
EIT 5 - Institut für Hoch- und Höchstfrequenztechnik
Chair:
Lindenmeier, Stefan
Open Access yes or no?:
Nein / No
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Occurrences:
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