Logo
Benutzer: Gast  Login
Autoren:
Kögel, Gottfried 
Dokumenttyp:
Zeitschriftenartikel / Journal Article 
Titel:
Defect Profiling with Pulsed e+-Beams 
Zeitschrift:
Materials Science Forum 
Heftnummer:
175-178 
Jahr:
1995 
Seiten von - bis:
107-114 
Sprache:
Englisch 
ISSN:
1662-9752 
Fakultät:
Fakultät für Luft- und Raumfahrttechnik 
Institut:
LRT 2 - Institut für angewandte Physik und Messtechnik 
Professur:
Dollinger, Günther 
Open Access ja oder nein?:
Nein / No