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Autoren:
Osiele, O. M.; Britton, David T.; Härting, M.; Sperr, Peter; Topic, M.; Shaheen, S. E.; Branz, H. M. 
Dokumenttyp:
Zeitschriftenartikel / Journal Article 
Titel:
Defect structural characterization of organic polymer layers 
Zeitschrift:
Journal of Non-Crystalline Solids 
Heftnummer:
338-340, 1 Special Issue 
Konferenztitel:
International Conference on Amorphous and Microcrystalline Semiconductors (20., 2003, Campos do Jordao) 
Konferenztitel:
20th International Conference on Amorphous and Microcrystalline Semiconductors, Campos do Jordao, BRAZIL, AUG 25-29, 2003 
Tagungsort:
Campos do Jordao 
Jahr der Konferenz:
2003 
Datum Beginn der Konferenz:
25.08.2003 
Datum Ende der Konferenz:
29.08.2003 
Jahr:
2004 
Seiten von - bis:
612-616 
Sprache:
Englisch 
Abstract:
In this paper, we study the effect of blending the conducting polymers, P3HT with the fullerene complex PCBM on its structural and defect characteristics. The films were deposited on glass substrates by spin casting, and were characterized with positron annihilation, microscopy and other techniques with regard to thickness, and structural homogeneity. The unblended polymers have positron annihilation characteristics similar to most non-polar polymers, exhibiting a relatively broad electron momen...    »
 
ISSN:
0022-3093 
Fakultät:
Fakultät für Luft- und Raumfahrttechnik 
Institut:
LRT 2 - Institut für angewandte Physik und Messtechnik 
Professur:
Dollinger, Günther 
Open Access ja oder nein?:
Nein / No