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Autoren:
Esmark, Kai; Fürböck, Christoph; Gossner, Harald; Groos, Gerhard; Litzenberger, Martin; Pogany, Dionýz; Zelsacher, R.; Stecher, Matthias; Gornik, Erich 
Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper 
Titel:
Simulation and experimental study of temperature distribution during ESD stress in smart-power technology ESD protection structures 
Titel Konferenzpublikation:
38th Annual 2000 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings 
Konferenztitel:
Annual IEEE International Reliability Physics Symposium (38., 2000, San Jose, CA) 
Konferenztitel:
IRPS 2000 
Tagungsort:
San Jose, CA 
Jahr der Konferenz:
2000 
Datum Beginn der Konferenz:
10.04.2000 
Datum Ende der Konferenz:
13.04.2000 
Verlag:
IEEE 
Jahr:
2000 
Seiten von - bis:
304 – 309 
Sprache:
Englisch 
ISBN:
0-7803-5860-0 
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik 
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik 
Professur:
Groos, Gerhard 
Open Access ja oder nein?:
Nein / No