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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Titel:
Characterisation method for chip card ESD events causing terminal failures
Titel Konferenzpublikation:
23rd European Symposium on Reliability of Electronic Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF) 2012
Untertitel Konferenzpublikation:
1-5 October 2012: Cagliari, Italy
Konferenztitel:
European Symposium on Reliability of Electronic Devices, Failure Physics and Analysis (23., 2012, Cagliari)
Tagungsort:
Cagliari, Italy
Jahr der Konferenz:
2012
Datum Beginn der Konferenz:
01.10.2012
Datum Ende der Konferenz:
05.10.2012
Jahr:
2012
Sprache:
Englisch
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Professur:
Groos, Gerhard
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
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