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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Titel:
Thermal and free carrier concentration mapping during ESD event in Smart Power ESD protection devices using a modified laser interferometry technique
Titel Konferenzpublikation:
European Symposium, on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF)
Untertitel Konferenzpublikation:
Dresden, Germany; 2.10.2000 – 6.10.2000
Konferenztitel:
European Symposium, on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (2000, Dresden)
Tagungsort:
Dresden
Jahr der Konferenz:
2000
Datum Beginn der Konferenz:
02.10.2000
Datum Ende der Konferenz:
06.10.2000
Jahr:
2000
Sprache:
Englisch
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Professur:
Groos, Gerhard
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
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