Login
Dokumenttyp:
Zeitschriftenartikel / Journal Article
Titel:
On-wafer measurement of the reverse-recovery time of integrated diodes by Transmission-Line-Pulsing (TLP)
Zeitschrift:
Microelectronics Reliability
Jahrgang:
51
Heftnummer:
8
Jahr:
2011
Seiten von - bis:
1309-1314
Sprache:
Englisch
URL zum Inhalt:
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Professur:
Sauter, Martin
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
BibTeX