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Authors:
Groos, Gerhard 
Document type:
Konferenzbeitrag / Conference Paper 
Title:
Charakterisierung des Entladeverhaltens von Single- und Dual-Interface Chipkarten 
Title of conference publication:
Tagungsband 12. ESD Forum 2011 
Subtitle of conference publication:
München 6./7.12.2011 
Conference title:
Electro Static Discharge Forum (12., 2011, München) 
Venue:
München 
Year of conference:
2011 
Date of conference beginning:
06.12.2011 
Date of conference ending:
07.12.2011 
Year:
2011 
Pages from - to:
53-58 
Language:
Deutsch 
Department:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik 
Institute:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik 
Chair:
Groos, Gerhard 
Open Access yes or no?:
Nein / No