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Autoren:
Ammer, Michael; Cao, Yiqun; Rupp, Andreas; Sauter, Martin; Maurer, Linus 
Dokumenttyp:
Zeitschriftenartikel / Journal Article 
Titel:
Bringing the SEED Approach to the Next Level: Generating IC Models for System ESD and Electrical Stress Simulation out of Design Data 
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility 
Jahrgang:
62 
Heftnummer:
Verlag:
IEEE 
Jahr:
2020 
Seiten von - bis:
25-35 
Sprache:
Englisch 
ISSN:
0018-9375 ; 1558-187X 
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik; Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik 
Institut:
EIT 4 - Institut für Mikroelektronik und Schaltungstechnik; ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik 
Professur:
Sauter, Martin ; Maurer, Linus 
Open Access ja oder nein?:
Nein / No