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Document type:
Zeitschriftenartikel / Journal Article
Title:
Bringing the SEED Approach to the Next Level
Subtitle:
Generating IC Models for System ESD and Electrical Stress Simulation out of Design Data
Journal:
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
Volume:
62
Issue:
1
Publisher:
IEEE
Year:
2020
Pages from - to:
25-35
Language:
Englisch
ISSN:
0018-9375 ; 1558-187X
Article ID:
19354570
Department:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik; Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institute:
EIT 4 - Institut für Mikroelektronik und Schaltungstechnik; ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Chair:
Sauter, Martin; Maurer, Linus
Open Access yes or no?:
Nein / No
BibTeX