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Authors:
Ammer, Michael; Cao, Yiqun; Rupp, Andreas; Sauter, Martin; Maurer, Linus 
Document type:
Zeitschriftenartikel / Journal Article 
Title:
Bringing the SEED Approach to the Next Level: Generating IC Models for System ESD and Electrical Stress Simulation out of Design Data 
Journal:
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility 
Volume:
62 
Issue:
Publisher:
IEEE 
Year:
2020 
Pages from - to:
25-35 
Language:
Englisch 
ISSN:
0018-9375 ; 1558-187X 
Department:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik; Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik 
Institute:
EIT 4 - Institut für Mikroelektronik und Schaltungstechnik; ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik 
Chair:
Sauter, Martin ; Maurer, Linus 
Open Access yes or no?:
Nein / No