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Autoren:
Kanzow, Jörn; Faupel, Franz; Egger, Werner; Sperr, Peter; Kögel, Gottfried; Wehlack, C.; Meiser, A.; Possart, Wulff 
Dokumenttyp:
Sammelbandbeitrag / Paper in Collective Volume 
Titel:
Depth-Resolved Analysis of the Aging Behavior of Epoxy Thin Films by Positron Spectroscopy 
Titel Sammlung:
Adhesion 
Untertitel Sammlung:
Current Research and Applications 
Herausgeber Sammlung:
Possart, Wulff 
Verlagsort:
Weinheim 
Verlag:
Wiley-VCH 
Jahr:
2006 
Seiten von - bis:
465-477 
Sprache:
Englisch 
Stichwörter:
adhesion ; research ; application ; depth-resolved analysis ; aging behavior of epoxy thin films ; positron spectroscopy ; PALS investigation 
Abstract:
During recent decades positron annihilation spectroscopy has become a very powerful tool for the investigation of polymers. In particular, positron annihilation lifetime spectroscopy (PALS) yields valuable information about free volume and related properties. Moreover, special chemical information can be obtained. Now advances in positron beam technology also allow investigations of thin polymer films and surface regions. In this paper, we report the use, for the first time, of PALS to elucidate...    »
 
ISBN:
3-527-31263-3 ; 978-3-527-31263-4 
Fakultät:
Fakultät für Luft- und Raumfahrttechnik 
Institut:
LRT 2 - Institut für angewandte Physik und Messtechnik 
Professur:
Dollinger, Günther