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Autoren:
Thomas, S. L.; Schmidt, K. M.; von Oertzen, Timo 
Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper 
Titel:
Identifying compromised test items using the Rasch model and support vector machines 
Konferenztitel:
International Objective Measurement Workshop (2016, Washington, DC) 
Tagungsort:
Washington D.C. 
Jahr der Konferenz:
2016 
Jahr:
2016 
Sprache:
Englisch 
Fakultät:
Fakultät für Humanwissenschaften 
Institut:
Department für Psychologie 
Professur:
von Oertzen, Timo 
Open Access ja oder nein?:
Nein / No