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Dokumenttyp:
Zeitschriftenartikel / Journal Article
Titel:
Single-shot thermal energy mapping of semiconductor devices with the nanosecond resolution using holographic interferometry
Zeitschrift:
IEEE Electron Device Letters
Jahrgang:
23
Heftnummer:
10
Jahr:
2002
Seiten von - bis:
606-608
Sprache:
Englisch
ISSN:
0741-3106 ; 1558-0563
URL zum Inhalt:
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Professur:
Groos, Gerhard
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
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