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Document type:
Zeitschriftenartikel / Journal Article
Title:
Single-shot thermal energy mapping of semiconductor devices with the nanosecond resolution using holographic interferometry
Journal:
IEEE Electron Device Letters
Volume:
23
Issue:
10
Year:
2002
Pages from - to:
606-608
Language:
Englisch
ISSN:
0741-3106 ; 1558-0563
Department:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institute:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Chair:
Groos, Gerhard
Open Access yes or no?:
Nein / No
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