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Home / Alle InhaltePublikationen (Universitätsbibliografie)Fakultäten (HAW)Fakultät für Elektrotechnik und Technische InformatikETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik

Autoren:

Pogany, Dionýz; Dubec, Viktor; Bychikhin, Sergey; Fürböck, Christoph; Litzenberger, Martin; Naumov, S.; Groos, Gerhard; Stecher, Matthias; Gornik, Erich

Dokumenttyp:

Zeitschriftenartikel / Journal Article

Titel:

Single-shot nanosecond thermal imaging of semiconductor devices using absorption measurements

Zeitschrift:

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

Jahrgang:

Heftnummer:

Jahr:

2003

Seiten von - bis:

85-88

Sprache:

Englisch

ISSN:

1530-4388 ; 1558-2574

DOI:

10.1109/TDMR.2003.815276

URL zum Inhalt:

https://doi.org/10.1109/TDMR.2003.815276

Fakultät:

Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik

Institut:

ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik

Professur:

Groos, Gerhard

Open Access ja oder nein?:

Nein / No

BibTeX

Vorkommen:

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