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Authors:

Pogany, Dionýz; Dubec, Viktor; Bychikhin, Sergey; Fürböck, Christoph; Litzenberger, Martin; Naumov, S.; Groos, Gerhard; Stecher, Matthias; Gornik, Erich

Document type:

Zeitschriftenartikel / Journal Article

Title:

Single-shot nanosecond thermal imaging of semiconductor devices using absorption measurements

Journal:

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

Volume:

Issue:

Year:

2003

Pages from - to:

85-88

Language:

Englisch

ISSN:

1530-4388 ; 1558-2574

DOI:

10.1109/TDMR.2003.815276

URL:

https://doi.org/10.1109/TDMR.2003.815276

Department:

Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik

Institute:

ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik

Chair:

Groos, Gerhard

Open Access yes or no?:

Nein / No

BibTeX

Occurrences:

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