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Autoren:
Groos, Gerhard; Jensen, Nils; Denison, Marie; Stecher, Matthias 
Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper 
Titel:
Simulation of the Cross-Coupling among Snap Back Devices under Transient High Current Stress 
Herausgeber Sammlung:
Wachutka, Gerhard; Schrag, Gabriele 
Titel Konferenzpublikation:
Simulation of Semiconductor Processes and Devices 2004 
Konferenztitel:
International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (2004, München) 
Konferenztitel:
SISPAD 04 
Tagungsort:
München 
Jahr der Konferenz:
2004 
Datum Beginn der Konferenz:
02.09.2004 
Datum Ende der Konferenz:
04.09.2004 
Verlagsort:
Wien 
Verlag:
Springer 
Jahr:
2004 
Seiten von - bis:
211-214 
Sprache:
Englisch 
ISBN:
978-3-7091-0624-2 ; 978-3-7091-7212-4 
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik 
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik 
Professur:
Groos, Gerhard 
Open Access ja oder nein?:
Nein / No