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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Titel:
Transient analysis of latent damage formation in SMD capacitors by Transmission Line Pulsing (TLP)
Titel Konferenzpublikation:
28th European Symposium on Reliability of Electronic Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF)
Untertitel Konferenzpublikation:
Bordeaux, 25.-28.9.2017
Konferenztitel:
European Symposium on Reliability of Electronic Devices, Failure Physics and Analysis (28., 2017, Bordeaux)
Tagungsort:
Bordeaux
Jahr der Konferenz:
2017
Datum Beginn der Konferenz:
25.09.2017
Datum Ende der Konferenz:
28.09.2017
Jahr:
2017
Sprache:
Englisch
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Professur:
Groos, Gerhard
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
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